同轴向伸长
PVDF piezoelectric films were prepared by uniaxial stretching. The techniques of X-ray Diffraction and FTIR were used to analyze the microstructure of the films stretched under the different rate.
通过单轴拉伸工艺制备了PVDF压电薄膜,运用X射线衍射和FTIR分析技术分析了不同拉伸速率下薄膜的微观结构;
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